51吃瓜

Ty?st?tarkkuuden k?site

K?sittelyn tarkkuutta k?ytet??n p??asiassa tuotteen tuotannon asteeseen, ja sek? k?sittelyn tarkkuus ett? k?sittelyvirhe ovat termej?, joita k?ytet??n k?sitellyn pinnan geometristen parametrien arvioimiseen. Ty?st?tarkkuus mitataan toleranssiluokan mukaan, ja mit? pienempi luokan arvo, sit? suurempi tarkkuus; K?sittelyvirhe ilmaistaan numeerisesti, ja mit? suurempi arvo, sit? suurempi virhe. Korkea ty?st?tarkkuus tarkoittaa pieni? ty?st?virheit? ja p?invastoin.

IT01, IT0, IT1, IT2, IT3–IT18 toleranssitasoja on yhteens? 20, joista IT01 edustaa osan suurinta koneistustarkkuutta, IT18 osaa pienint? koneistustarkkuutta ja yleens? IT7 ja IT8 keskinkertaista koneistustarkkuutta.

Mill? tahansa k?sittelymenetelm?ll? saadut todelliset parametrit eiv?t ole ehdottoman tarkkoja. Osan toiminnan n?k?kulmasta, niin kauan kuin k?sittelyvirhe on osa-piirustuksen vaatiman toleranssialueen sis?ll?, sen katsotaan varmistavan k?sittelyn tarkkuus.

Koneen laatu riippuu osien ty?st?laadusta ja koneen kokoonpanolaadusta, ja osien ty?st?laatuun kuuluu kaksi keskeist? osaa: ty?st?tarkkuus ja pinnan laatu.

Mekaanisella ty?st?tarkkuudella tarkoitetaan sit?, miss? m??rin ty?stetyn osan todelliset geometriset parametrit (koko, muoto ja sijainti) vastaavat ihanteellisia geometrisia parametreja. Eroa niiden v?lill? kutsutaan koneistusvirheeksi. Ty?st?virheen suuruus heijastaa ty?st?tarkkuuden tasoa. Mit? suurempi virhe, sit? pienempi koneistustarkkuus ja mit? pienempi virhe, sit? suurempi koneistustarkkuus.

S??t?menetelm?

(1) Prosessij?rjestelm?n mukauttaminen

(2) V?henn? ty?st?koneiden virheit?

(3) V?hennet??n siirtovirheit? siirtoketjussa

(4) V?henn? ty?kalun kulumista

(5) V?henn? prosessij?rjestelm?n j?nnityst? ja muodonmuutosta

(6) V?henn? prosessij?rjestelm?n l?mp?muodonmuutosta

(7) V?hennet??n j??nn?sj?nnityst?

Vaikutuksen syyt

(1) K?sittelyperiaatteen virhe

K?sittelyperiaatteella tarkoitetaan virhett?, joka syntyy k?ytt?m?ll? likim??r?isi? ter?profiileja tai likim??r?isi? siirtosuhteita prosessointiin. K?sittelyperiaatteellisia virheit? esiintyy usein kierteiden, hammaspy?rien ja monimutkaisten pintojen koneistuksessa.

K?sittelyss? likim??r?ist? k?sittely? k?ytet??n yleens? tuottavuuden ja talouden parantamiseen olettamalla, ett? teoreettinen virhe voi t?ytt?? k?sittelyn tarkkuuden vaatimukset.

(2) Oikaisuvirhe

Ty?koneen s??t?virhe viittaa virheeseen, joka johtuu virheellisest? s??t?st?.

5. Mittausmenetelm?

Ty?st?tarkkuus k?ytt?? erilaisia mittausmenetelmi? erilaisten ty?st?tarkkuuksien sis?ll?n ja tarkkuusvaatimusten mukaan. Yleisesti ottaen on olemassa useita menetelmi?:

(1) Sen mukaan, mitataanko mitattu parametri suoraan vai ei, se voidaan jakaa suoraan mittaukseen ja ep?suoraan mittaukseen.

Suora mittaus: mitataan suoraan mitattu parametri mitatun koon saamiseksi. Esimerkiksi mittaus satulalla tai vertailulaitteella.

Ep?suora mittaus: Mitattuun kokoon liittyvien geometristen parametrien mittaaminen ja mitatun koon saaminen laskennallisesti.

Suora mittaus on luonnollisesti intuitiivisempaa, kun taas ep?suora mittaus on hankalampaa. Yleens?, kun mitattu koko tai suora mittaus ei pysty t?ytt?m??n tarkkuusvaatimuksia, on k?ytett?v? ep?suoraa mittausta.

(2) Sen mukaan, edustaako mittauslaitteen lukuarvo suoraan mitatun koon arvoa, se voidaan jakaa absoluuttiseen mittaukseen ja suhteelliseen mittaukseen.

Absoluuttinen mittaus: Lukuarvo edustaa suoraan mitatun mitan kokoa mitattuna vernier-satulalla.

Suhteellinen mittaus: Lukuarvo edustaa vain mitatun koon poikkeamaa suhteessa vakiom??r??n. Jos akselin halkaisija mitataan vertailulaitteella, on ensin s??dett?v? laitteen nolla-asento mittauslohkolla ja sitten mitata. Mitattu arvo on sivuakselin halkaisijan ja mittauslohkon koon v?linen ero, jota kutsutaan suhteelliseksi mittaukseksi. Yleisesti ottaen suhteellinen mittaustarkkuus on korkeampi, mutta mittaus on monimutkaisempaa.

(3) Sen mukaan, onko mitattu pinta kosketuksessa mittauslaitteen mittausp??n kanssa, se voidaan jakaa kosketusmittaukseen ja kosketuksettomaan mittaukseen.

Kosketusmittaus: Mittausvoima on olemassa, kun mittausp?? on kosketuksessa kosketettavan pinnan kanssa ja sill? on mekaaninen vaikutus. Jos mitataan osia mikrometrill?.

Kosketuston mittaus: Mittausp?? ei kosketa mitattavan osan pintaa, ja kosketukseton mittaus voi v?ltt?? mittausvoiman vaikutuksen mittaustuloksiin. Esimerkiksi projisointimenetelm?n, valoaaltoh?iri?iden mittausmenetelm?n jne.

(4) Samanaikaisesti mitattujen parametrien m??r?n mukaan se voidaan jakaa yhteen mittaukseen ja kattavaan mittaukseen.

Yksitt?inen mittaus: mitataan testattavan osan jokainen parametri erikseen.

Kattava mittaus: Mittataan kattavia indikaattoreita, jotka heijastavat osien asiaankuuluvia parametreja. Kun kierteit? mitataan ty?kalumikroskoopilla, kierteen todellinen v?lihalkaisija, profiilin puolikulmavirhe ja kierteen kumulatiivinen v?livirhe voidaan mitata erikseen.

Kattavalla mittauksella on yleens? korkea hy?tysuhde ja se varmistaa osien vaihdettavuuden luotettavammin, ja sit? k?ytet??n yleisesti valmiiden osien tarkastamiseen. Yksitt?inen mittaus voi m??ritt?? kunkin parametrin virheen erikseen, ja sit? k?ytet??n yleens? prosessianalyysiin, prosessitarkastukseen ja m??riteltyjen parametrien mittaamiseen.

(5) Mittauksen roolin mukaan koneistusprosessissa se voidaan jakaa aktiiviseen mittaukseen ja passiiviseen mittaukseen.

Aktiivinen mittaus: Ty?kappale mitataan koneistusprosessin aikana, ja tuloksia k?ytet??n suoraan osan koneistusprosessin ohjaamiseen, mik? est?? j?tteen syntymisen ajoissa.

Passiivinen mittaus: Mittaus suoritetaan ty?kappaleen ty?st?n j?lkeen. T?llaisella mittauksella voidaan m??ritt?? vain, ovatko k?sitellyt osat p?tevi?, ja se rajoittuu j?tteiden l?yt?miseen ja poistamiseen.

(6) Testatun osan tilan mukaan mittausprosessin aikana se voidaan jakaa staattiseen mittaukseen ja dynaamiseen mittaukseen.

Staattinen mittaus: mitataan suhteellinen hiljaisuus. Mittaa halkaisija mikrometrill?.

Dynaaminen mittaus: Mittauksen aikana mitattava pinta liikkuu suhteessa mittausp??n simuloituun ty?skentelytilaan.

Dynaaminen mittausmenetelm? voi heijastaa k?ytt?tilaa l?hestyvien osien tilannetta, joka on mittausteknologian kehityssuunta.